行政函釋內容
_本系統行政函釋內容係函釋作成當時之公文原文，其內所引述法規之名稱及條次可能因法規嗣後異動而有所不同
| 標題： |
函詢保稅工廠接受委託測試 IC、WAFER後產生之不良品處理疑義
|
| 發文機關： |
行政院環境保護署 |
| 發文字號： |
環署廢字第0940077050號函 |
| 發文日期： |
民國 94 年 10 月 03 日 |
| 單位業務分類： |
資源循環/綜合規劃 |
| 內容： |
全文內容：一、本案保稅工廠接受委託測試之 IC、WAFER 若為國外製造而尚未通關
進口者，則測試過程產生之不良品，應請全數退回國外，不應於國內
廢棄。前開應退回國外之 IC、WAFER 不良品，建請關稅局考量不予
以破壞，以避免國外誤以為是我國輸出之廢棄物。
二、若保稅工廠接受委託測試之 IC、WAFER 為國內事業所產生，則測試
過程產生之不良品仍屬原委託測試事業所有，若擬廢棄，則應全數退
回該事業，由其依廢棄物清理法第 28 條規定，以自行清除處理、共
同清除處理、委託清除處理等方式擇一為之。
|
| 相關法規： |
|